(资料图片仅供参考)

有 关于一种基于局部采样的存储器的磨损平衡方法方面的知识，小编在此整里出来，给大家作为参考，下面就详细的介绍一下关于一种基于局部采样的存储器的磨损平衡方法的相关内容。

1、 《一种基于局部采样的存储器的磨损平衡方法》是炬力集成电路设计有限公司于2007年7月5日申请的发明专利，该专利的公布号为：CN101067800，专利公布日：2007年11月7日，发明人：陈黎明、陈诚。

2、 《一种基于局部采样的存储器的磨损平衡方法》涉及了一种基于局部采样原理的存储器的磨损平衡实现方法，具体来讲是闪存的磨损平衡方法。该发明包括：建立闪存的生命周期模型；将整个生命周期按具体的使用规律分成一定个数的生命采样阶段；在某个采样阶段的终点，采集该采样阶段内的历史数据并进行分析，将任务最繁重的存储单元调配到最安静的区域，将最安静的区域对应的存储单元调配到任务最繁重的存储单元原先所在的区域。该发明可以达到磨损平衡，提高存储器的使用寿命，适用于所有易受损的存储器。

3、 2017年12月11日，《一种基于局部采样的存储器的磨损平衡方法》获得第十九届中国专利优秀奖。

4、 （概述图为《一种基于局部采样的存储器的磨损平衡方法》摘要附图）